むらさき あきこ
村崎 明子
Murasaki Akiko
講師/一般総合科目
| 生年月 | 1982年10月3日 |
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| 所属 | 一般総合科目 |
| 学位 | 工学学士(東京大学/2005.3) 工学修士(東京大学/2007.3) |
| 免許・資格 | |
| 専門分野 | 物理工学 |
| 所属学会 | 応用物理学会 |
| 担当授業科目 | 一般総合科目（数学A、物理学A） 商科（PC文書作成実習I・II、PCデータ活用実習I・II） |
| 現在の研究 | |
| リサーチマップ |
学歴/経歴
| 学歴 | 東京大学 工学部 物理工学科卒業(2005.3) 東京大学大学院 工学系研究科 物理工学専攻 修士課程修了(2007.3) |
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| 主な職歴 | （株）東芝 研究開発センター LSI基盤技術ラボラトリー（2007.4） |
業績
| 主な業績 | |
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| 主な学会 /社会活動等 |
① 「STM探針によるSixGe1-x酸化膜上のGe量子ドット操作」 第67回応用物理学会学術講演会（2006年秋季）
② 「極薄Si酸化膜を用いた超高密度Ge1-xSnx量子ドットの形成」 第54回応用物理学関係連合講演会（2007年春季）（於 青山学院大学）
③ Decoupling method of BTI component from hot carrier degradation in ultra-thin HfSiON MOSFETs 2009 International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM 2009)
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| 主な研究論文 /著書等 |
① 「Ｘ線タルボ干渉計用回折格子の研究」 東京大学工学部物理工学科 卒業論文(2005)
② 「Ge1-xSnx量子ドットの作製と物性評価」 東京大学大学院工学系研究科物理工学専攻 修士論文 (2007)
③ Method of decoupling the BTI component from hot carrier degradation in ultra-thin high-k MOSFETs, Akiko Masada, Yuichiro Mitani, et al. Japanese Journal of Applied Physics, Volume 49, Issue 7, pp. 071102-071102-6 (2010).SOCIETY OF APPLIED PHYSICS )
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| 関連情報 |
